SMART-8003 ialah instrumen pemeriksaan NDT mudah alih termasuk ECA (Eddy Current Surface Array Solution), pemeriksaan video, kedudukan satelit, kepekaan tinggi/jalur lebar UT resolusi tinggi, frekuensi swept, RF, MIA. Hasil daripada kaedah pemeriksaan yang berbeza menjadikan jurutera mudah dianalisis dan mudah untuk disahkan. Ini membantu untuk mendapatkan penilaian yang lebih objektif dan benar.
SMART-8003 ialah pengesan semua-dalam-satu termasuk tatasusunan permukaan arus ECA Eddy, pemeriksaan video, kedudukan satelit, kepekaan tinggi/jalur lebar UT resolusi tinggi, frekuensi sapuan, RF, MIA. Ia direka untuk pemeriksaan kecacatan bahan logam, dan untuk menyusun aloi, keadaan rawatan haba dan ketebalan. Pemeriksaan UT, digabungkan dengan penembusan tinggi pelepasan yang kuat dan jalur sempit sensitiviti tinggi, amat sesuai untuk pengesanan kecacatan bahan kerja berat yang besar seperti penempaan besar, tuangan dan komposit. Siasatan nadi sempit berfungsi bersama-sama dengan peleraian tinggi pelepasan yang lemah dan jalur lebar membolehkan mencari kelemahan kecil dengan kepekaan yang sangat tinggi. Hasil daripada kaedah pemeriksaan yang berbeza menjadikan jurutera mudah dianalisis dan mudah untuk disahkan. Ini membantu untuk mendapatkan penilaian yang lebih objektif dan benar. Bidang aplikasi termasuk penerbangan, aeroangkasa, kuasa elektrik, industri nuklear, metalurgi, pembinaan kapal, industri petrokimia, kereta dan sebagainya. Ia amat sesuai untuk pengesanan kecacatan bahan komposit dan bahagian struktur pelekat.
01 EDDY ARRAY ARUS
· 32-64 saluran (pilihan) tatasusunan arus pusar
· Pemeriksaan kimpalan tanpa had arah
· Pampasan untuk mengangkat dan menggoncang
· Pemeriksaan yang berbeza untuk kedalaman retak
· Mod penggera khas amplitud dan fasa tidak sama
· Pelbagai mod paparan: paparan impedans, paparan imbasan asas masa, paparan superposisi asas masa, paparan pengimejan 2D/3D pengimbasan ECA (B/C)
· Definisi tinggi dan sensitiviti
· Dayakan untuk pratetap parameter proses khas untuk kegunaan selanjutnya
· Mudah dikendalikan, bahasa pilihan Cina dan Inggeris
· Pemerolehan data pengimbasan C
· Dayakan untuk menguji pengurangan ketebalan dinding tiub, pemeriksaan permukaan, ukuran kedalaman, ukuran ketebalan salutan dan pelapisan pada permukaan logam, pengasingan bahan logam dan kekerasan
· Direka dengan 8 unit pencampuran untuk memisahkan dan menyekat berbilang isyarat gangguan pada masa yang sama
· Pelbagai mod penapis
· Pelbagai cara menyimpan data
· Menyediakan fungsi analisis konfigurasi pemeriksaan berbilang frekuensi
· Pemeriksaan video tersedia pada masa yang sama ujian arus pusaran.
02 UT, KEKERAPAN SAPU, RF, NADI, MIA
· Imbasan UT A: UT digunakan secara meluas untuk pemeriksaan kecacatan dalaman logam, bukan logam dan komposit. Kaedah gema nadi ultrasonik dan nadi melalui kaedah biasanya digunakan untuk mengesan kualiti ikatan, penyahikatan, lubang dan ikatan yang lemah untuk bahan komposit tebal seperti plat komposit berikat logam berbilang lapisan.
· Kekerapan sapuan: kualiti ikatan ditentukan oleh perubahan amplitud isyarat pemulangan yang dikesan, diproses dan dipaparkan dengan menghantar transduser, yang teruja oleh frekuensi sapuan elektronik (tiada gandingan diperlukan, julat frekuensi 20K~80KHz, boleh dilanjutkan kepada 5MHz).
· RF: penyahikatan ditentukan oleh amplitud dan perubahan fasa, yang diukur dengan pengujaan keadaan mantap daripada gelombang berterusan (tiada gandingan diperlukan).
· Denyutan: transduser pemancar teruja dengan denyutan pendek, dan frekuensi terbaik dipilih untuk menjadikan bahan kerja menjana getaran lenturan terbesar. Apabila probe mengimbas kawasan ikatan yang lemah, amplitud isyarat akan lebih besar daripada kawasan yang baik (tiada gandingan diperlukan).
· MIA: transduser pemancar menggetarkan bahan kerja yang sedang diuji. Galangan mekanikal yang mencerminkan prestasi getaran bahan kerja bertindak balas pada cip penerima untuk membentuk beban transduser. Apabila terdapat sebarang kecacatan atau sebarang perubahan kualiti ikatan, prestasi getaran juga akan berubah. Dengan mengukur perubahan ini, ketakselanjaran bahan kerja yang sedang diuji boleh didapati (tiada gandingan diperlukan)
03 CIRI-CIRI LAIN
· Parameter dan data ujian boleh disimpan dan laporan boleh dieksport dalam format PDF\EXCEL\WORD
· Direka dengan fungsi kedudukan satelit
· Isyarat ujian sepanjang proses pemeriksaan boleh disimpan dan dimainkan semula
· Disepadukan dengan pemeriksaan video untuk kecacatan permukaan yang boleh dilihat
· Untuk meminimumkan ralat peribadi, SMART-8003 mempunyai fungsi gesaan menu masa nyata, interaksi manusia-mesin, operasi skrin sentuh dan operasi papan kekunci/tetikus
· Bateri litium terbina dalam untuk beroperasi lebih daripada 6 jam
04 SPESIFIKASI TEKNIKAL
ITEM |
SPESIFIKASI |
EDDY ARRAY ARUS |
|
Bilangan kekerapan |
4 |
Bilangan saluran |
32 / 64 |
Paparan impedans |
8 |
Bilangan unit pencampuran |
8 |
Jarak frekuensi |
64Hz~5MHz |
Keuntungan |
0~90dB, dalam langkah 0.5 dB |
Penapis lulus tinggi |
0~500Hz |
Penapis lulus rendah |
10Hz~10KHz |
Penapis digital |
1~100 |
Pregain |
10~35dB |
memandu |
8 peringkat |
Ukuran AMP & PHA |
Automatik/manual |
Mod paparan pada skrin yang sama |
Impedans, pengimbasan asas masa, pengimejan B/C, superposisi asas masa |
Jenis penggera |
Separuh AMP-PHA, AMP-PHA, Segi Empat |
Mod penapis |
Lulus tinggi/laluan rendah/penapis digital |
Mod imbangan |
Baki elektronik digital |
Ultrasonik |
|
Jarak frekuensi |
1~5, 0.5~15, 3~16MHz |
Keuntungan |
0~110dB, dalam langkah 0.5/1/2/6dB |
Dapatkan penalaan halus |
-2~+2dB, dalam langkah 0.1dB |
Mod pengesanan |
Gelombang penuh, positif, negatif dan frekuensi radio (RF) |
Julat pengesanan |
Boleh ditala secara berterusan dari 3~99990mm (gelombang membujur dalam keluli), julat paparan minimum ialah 3mm |
Peralihan nadi |
-10.0~2000mm (gelombang membujur dalam keluli) |
Kelewatan siasatan |
0~199.99us |
Halaju bahan |
1000~15000m/s |
Redaman |
Nadi tinggi/sederhana/rendah/sempit |
penindasan |
0~90%, penindasan linear |
Ralat linear menegak |
≤ 3% |
Ketepatan pensampelan |
10 bit AD |
Kadar persampelan |
800MHz |
Margin sensitiviti pemeriksaan |
≥ 65dB |
Resolusi medan jauh |
≥ 30dB |
Ralat linear mendatar |
≤ 0.5% |
Keluk DAC |
Rekod 10 titik rujukan gema paling banyak, jarak tiga garisan DAC boleh laras, titik rujukan gema boleh diubah suai |
Pintu gerbang |
a/b/c tiga pagar penggera bebas, get a dengan fungsi pengesanan, get b/c dengan fungsi echo expand |
Pemilihan titik pengukuran |
Pilih bahagian hadapan atau puncak gema pertama di pintu pagar |
Gema beku |
Dapat membekukan gambar pemeriksaan jenis A |
Penilaian gema |
Paparan pilihan laluan rasuk, jarak mendatar, jarak menegak, amplitud gema, perbezaan dB |
Pengimejan imbasan |
Imbasan B/imbasan C |
Kekerapan sapuan, nadi, RF, MIA |
|
Jarak frekuensi |
Kekerapan sapuan 20k~80kHz MIA 2.5k~10kHz UT konvensional 0.5M~16MHz RF 20k~80kHz Nadi 20k~80kHz |
Keuntungan |
UT: 0~110 dB dalam langkah 0.5/1/2/6dB, pemeriksaan akustik: 0~90 dB, dalam langkah 0.5 dB |
Mikropemproses |
CPU dwi-teras 32bit berdasarkan A9 |
Penyimpanan |
16G |
Ingatan |
1G |
Antara muka |
USB, rangkaian, HDMI, WIFI, tetikus, operasi tombol ulang-alik |
Paparan skrin |
Kecerahan tinggi 6.5 dalam skrin sentuh LCD warna TFT dengan resolusi 640*480 |
Suhu Operasi |
-20℃ ~ +55℃ |
Keperluan kuasa |
Penyesuai DC 19V, bateri litium boleh dicas semula 14.8V 6.3AH |